著書
[1] Hajime Fujita, Toshihiro Hanawa, Satoshi Kagami, Kenji Kono, Kimio Kuramitsu, Toshiyuki Maeda, Shigeru Matsubara, Yutaka Matsuno, Tatsuo Nakajima, Toshinori Takai, Hiroki Takamura, Makoto Takeyama, Mario Tokoro, Hiroshi Yamada, Shuichiro Yamamoto, Makoto Yashiro, and Yasuhiko Yokote, Open Systems Dependability – Dependability Engineering for Ever-Changing Systems, CRC Press, 2012.
論文誌
[1] 亀井靖高, 左藤裕紀, 門田暁人, 川口真司, 上野秀剛, 名倉正剛, 松本健一, "クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験," 電子情報通信学会論文誌 D, pages 544-547 2010年4月.
研究会・全国大会等
[1] 左藤 裕紀, 亀井 靖高, 上野 秀剛, 門田 暁人, 川口 真司, 名倉 正剛, 松本 健一, 飯田 元, "コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析," 電子情報通信学会技術報告, volume 108, number 242, pages 43-48 2008年10月.